Page 94 - 1788LAB 儀器指南
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                                             ►  5 角度顏色測量,用於明暗評估:15°/25°/45°/75°/110°
       maci 分光色差計(多角度)
                                             ► 光澤後面的其他顏色測量,用於色偏分析:-15°
                                             ►  閃爍性及顆粒性的量測去了解內部銀粉分布及排列的特性

                                             ►  檢測和量化在可見光範圍內激發的熒光(強度發射)
                                             ►  效能量測:15°、45°、75°及散射照明

                                             ►  效能參數:△S、△Sa、△Si、△G
                                             ►  測量面積:7030(23mm)/7034(12mm)

                                             ►  分光範圍:400~700nm/10n,觀測角:2°10°

                                             ►  重覆性:0.01ΔE*,1ơ,重現性:avg.ΔE*<0.25

                                             ►  色彩單位:ΔE*、ΔECMC、ΔE94、ΔE2000、ΔE99
                                             ►  光源:A、C、D50、D65、F2、F7、F11、F12





       AEROS 非接觸色差儀                          ►  非接觸測量完全避免物理性接觸可能帶來的污染或破壞、省卻清
                                                 潔步驟與時間

                                             ►  測量方式:非接觸式偵測、程控轉盤 12rpm、高速掃瞄 7 次/秒
                                             ►  光學系統:反射式、雙光束回授

                                             ►  觀測角:2°/10°
                                             ►  光譜範圍:400~700nm 解析度<3nm、帶寬 10nm

                                             ►  再現性:∆E*≤0.03(Max)CIEL*a*b*@標準白板
                                             ►  偵測區域:6"轉盤:101.3cm 、12"轉盤:223.2cm
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     CFEZ45/0 桌上型色差計

                                             ►  採 45°/0°光學系統,測量結果與肉眼視覺最接近

                                             ►  適合粉末、顆粒、糊狀、固體、液體、反射樣本
                                             ►  高科技雙光束氙氣閃弧燈,閃光壽命超過一百萬次

                                             ►  測口配有玻璃阻擋片,防止異物侵入內部光學組件
                                             ►  LCD 彩色點陣螢幕,顯示光譜曲線及詳細數據

                                             ►  標準配備「綠色標準片」作,確保追溯一致性
                                             ►  可選配外接電腦或印表機、EasyMatch 色差軟體

                                             ►  符合 ASTM、ISO、CIE、DIN、JIS 測量規範
                                             ►  標準光源:A、C、D50、D60、D65、D75、F2、F7、F11

                                             ►  觀測角:2°、10°
                                             ►  再現性:ΔE*<0.05CIEL*a*b*onwhitetile

                                             ►  光譜範圍:400~700nm、解析度<3nm、帶寬 10nm
                                             ►  測口直徑:Ø 31.8mm(照明)、Ø 25.4mm(偵測)




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