Page 85 - 1788LAB 儀器指南
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PS200C 顆粒掃描儀 ► 可以使用彩色矩陣相機分析旋轉板上的不透明顆粒，檢測出與
產品顏色有偏差的雜質
► 多軌道襟翼系統，可將受污染的顆粒分類。
► 能將實時結果數據傳輸到生產和過程控制，以及通過分選污染的
顆粒來改進產品
► 高性能 3CMOS 彩色矩陣相機彩色線掃描相機，解析度 50 微米
► 污染大小為 55μm，吞吐速率最高可達 200kg/h(取決於顆粒性質)
► 多軌抽吸系統，用於分離污染的顆粒
► 可測試的原材料：不透明顆粒
PSSD 顆粒尺寸 ► 可使用線掃描相機自由落體分析所有類型的顆粒，根據粒料的形
和形狀分佈測量
態特性對粒料進行分類(尺寸過大，過小，磨蝕，結塊..等)
► PSSD 的其他特殊功能是監控造粒系統(刀具的磨損程度)，確定
造粒重量(使用可選的稱重系統)以及將實時結果數據傳輸到生產
和過程控制中
► 高速 CMOS 線掃描相機(單色)
► 污染尺寸為 71μm
► 取決於粒料的性能，吞吐速率最高可達 18 kg / h
► 可測試的原材料：所有類型的顆粒
► 解析度：71 微米
PS800C 顆粒掃描儀
► 可使用兩個單獨的色線掃描相機(檢查顆粒流的正反面)自由
落體分析高度透明和不透明的顆粒，可檢測出與產品顏色有偏差
的雜質
► PS800C 的另一個功能是多道擋板系統，可將受污染的顆粒分
類，還可以確定母料濃度
► 能將實時結果數據傳輸到生產和過程控制，以及通過分選污染的
顆粒來改進產品
► 兩台 3CMOS 彩色線掃描相機
► 污染尺寸為 50μm，解析度：50 微米
► 取決於顆粒性質，最高可達到 1,000kg/h 的高速吞吐率
► 專為檢測高透明顆粒中的雜質而開發
► 實時結果可視化
► 多軌襟翼系統，用於分類受污染的顆粒
► 可測試的原材料:高度透明的顆粒、不透明顆粒、彩色顆粒
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